Mikä on sähkösuojaus? Galvaanisen eristyksen tyypit, luokitukset ja sovellukset
Aug 24
Näkymät: 1137

Kuvio 1: ADC-signaaliketju analogisesta tulosta digitaaliseen ulostuloon
Analoginen-digitaalinen muunnin (ADC) on elektroninen piiri, joka muuntaa jatkuvan analogisen signaalin digitaaliseksi arvoksi, jonka mikrokontrolleri, prosessori, FPGA tai tietokone voi lukea ja käsitellä.
ADC muuntaa analogisen signaalin digitaaliseksi dataksi seuraavan polun kautta:
• Analoginen tulo: Alkuperäinen jännite tai signaali, joka saapuu ADC:hen.
• Anti-aliasing-suodatin: Poistaa taajuudet, jotka voisivat aiheuttaa aliasointia ennen näytteenottoa.
• Sample-and-hold: Kaappaa syöttöjännitteen tietyssä hetkessä ja pitää sen muunnon aikana.
• Kvantointi: Määrittää näytteenoton jännitteen lähimpään saatavilla olevaan digitaaliseen tasoon.
• Koodaus: Muuntaa kvantoidun tason binäärikoodiksi.
• Digitaalinen ulostulo: Lähettää lopullisen digitaalisen arvon mikrokontrollerille, prosessorille, FPGA:lle tai muulle digitaaliselle järjestelmälle.
N-bittiselle ADC:lle:
Tasojen määrä = 2ᴺ
Ihanteellinen LSB:n koko = Täydellinen skaalarange ÷ 2ᴺ
Ihanteellinen kvantointivirhe = ±0.5 LSB
Esimerkiksi, 12-bittinen ADC sisältää:
2¹² = 4096 tasoa
0–3.3 V tuloalueella:
3.3 V ÷ 4096 ≈ 0.806 mV
Joten jokainen ihanteellinen LSB edustaa noin 0.806 mV:ta, kun ihanteellinen kvantointivirhe on noin ±0.403 mV.

Kuvio 2: Unipolar 0–3.3 V kvantointi-esimerkki binäärikoodien kanssa
Eri ADC-arkkitehtuurit käyttävät erilaisia muuntomenetelmiä, jotka vaikuttavat nopeuteen, resoluutioon, energiankulutukseen, viiveeseen ja tarkkuuteen.
| ADC-tyyppi |
Miten se toimii |
Pääetu |
Päärajoitus |
Yleiset sovellukset |
| SAR ADC |
Käyttää sisäistä DAC:ta, vertailijaa ja peräkkäisen lähestymistavan rekisteriä. Suorittaa binäärin etsinnän testaamaan yhtä bittiä kerrallaan, kunnes lähin digitaalinen koodi löytyy. |
Hyvä tasapaino nopeuden, resoluution, alhaisen tehon ja alhaisen viiveen välillä |
Ei sovellu korkeimman nopeuden signaaleihin |
Mikrokontrollerit, anturit, teollisuusohjaus, datan hankinta |
| Sigma-Delta ADC |
Yliampuu sisääntuloa korkealla sisäisellä taajuudella. Melun muotoilu työntää suuren osan kvantointimelusta signaalikaistan ulkopuolelle, kun taas digitaalinen suodatus ja vähentäminen tuottavat lopullisen alhaisemman taajuuden ulostulon. |
Korkea resoluutio ja alhainen melu |
Alempi kaistanleveys ja suurempi suodatinviive |
Tarkkuussensorit, audio, vaakojen järjestelmät |
| Flash ADC |
Käyttää monia vertailijoita samanaikaisesti syötteen tason määrittämiseksi. Ihanteellinen N-bittinen flash ADC vaatii 2ᴺ − 1 vertailijaa. |
Erittäin nopea muunnos |
Korkea virrankulutus, suuri piirikoko ja monimutkaisuus |
RF, radarit, oskilloskoopit |
| Putki-ADC |
Muuntaa syötteen useiden vaiheiden kautta. Jokainen vaihe ratkaisee osan signaalista, vähentää sen arvion, vahvistaa jäljellä olevan jäännöksen ja siirtää sen seuraavaan vaiheeseen. |
Korkea näytteenottotaajuus hyödyllisellä tarkkuudella |
Lisää muunnosviivettä |
Viestintä, kuvantaminen, nopeasti tapahtuva tietojen hankinta |
| Kaksois-ramppi-ADC |
Integroi tuntemattoman syötteen kiinteän ajan ajan, minkä jälkeen se integroi tunnetun viitearvon vastakkaisella polariteetilla, kunnes integrointi palaa lähtötasolle. Mitattu aika määrittää digitaalisen tuloksen. |
Korkea tarkkuus ja hyvä melun vaimennus |
Hidas muunnos |
Digitaaliset monimittarit ja tarkkuusmittarit |
SAR ADC määrittää tuloksen binäärisen haun prosessilla käyttäen sisäistä DAC:ta ja vertailijaa. Sigma-delta ADC luottaa ylänäytteenottoon, melun muokkaamiseen, digitaaliseen suodatukseen ja vähentämiseen korkearesoluutioisten mittausten saamiseksi. Flash ADC saavuttaa erittäin korkean nopeuden käyttämällä monia rinnakkaisia vertailijoita, kun taas putki-ADC käsittelee signaalijäännöksen useiden muunnosvaiheiden läpi. Kaksois-ramppi-ADC käyttää integraatiota ja aikarajoja, mikä tekee siitä hyvin soveltuvan hitaisiin, tarkkoihin mittauksiin.
ADC:n suorituskyky riippuu pääasiassa resoluutiosta, näytteenottotaajuudesta ja tarkkuudesta.
| Parametri |
Merkitys |
Miksi se on tärkeää |
| Resoluutio |
Muunnokseen käytettyjen bittien määrä |
Määrittää pienimmän syötemuutoksen, jonka ADC voi esittää |
| Näytteenottotaajuus |
Otettujen näytteiden määrä sekunnissa |
Määrittää, kuinka nopeasti muuttuva signaali voidaan mitata |
| Tarkkuus |
Kuinka lähellä tulos on todellisesta syötteestä |
Vaikuttaa mittauksen oikeellisuuteen |
| ENOB |
Tehokas bittimäärä |
Näyttää käytettävän resoluution melun ja vääristymien jälkeen |
Resoluutio määrittää, kuinka monta digitaalista tasoa ADC voi tuottaa.
8-bittinen = 256 tasoa
10-bittinen = 1,024 tasoa
12-bittinen = 4,096 tasoa
16-bittinen = 65,536 tasoa
Korkeampi resoluutio sallii pienempien signaalimuutosten esittämisen, mutta melu ja piivirheet voivat vähentää käytettävää resoluutiota.
Näytteenottotaajuus on se näytteiden määrä, jonka ADC ottaa sekunnissa, ja se ilmoitetaan tavallisesti SPS, kSPS tai MSPS -yksiköissä.
Kaistanrajoitetun perusjännitteen signaalin osalta näytteenottotaajuuden on oltava suurempi kuin kaksi kertaa suurin signaalitaajuus:
fₛ > 2 × fmax
Esimerkiksi perusjännitteen signaali, joka sisältää taajuuksia jopa 10 kHz, vaatii teoreettisesti:
fₛ > 20 kSPS
Käytännön suunnitelmissa näytteenottotaajuus on yleensä korkeampi, koska todellinen ali-aliassuodatin tarvitsee siirtymäkaistan suurimman vaaditun signaalitaajuuden ja fₛ/2 välillä.
Nämä termit ovat erilaisia:
| Termi |
Merkitys |
| Näytteenottotaajuus |
Otettujen näytteiden määrä sekunnissa |
| Analogisen syötteen kaistanleveys |
Taajuusalue, jonka ADC:n analoginen etupää voi hyväksyä |
| Muunnosläpäisy |
Suurin valmis muunnosten määrä sekunnissa |
| Kanavakohtainen näytteenottotaajuus |
Tehokas näytteenottotaajuus, joka on käytettävissä jokaiselle kanavalle |
Multiplexoidulle ADC:lle kokonaismuunnosläpäisy jakautuu kanavien kesken. Esimerkiksi 100 kSPS ADC, joka mittaa neljää kanavaa yhtä paljon, voi tarjota noin 25 kSPS per kanava, ennen kuin otetaan huomioon hankinta, kanavan vaihtaminen ja asettumisaika.
ADC:n tarkkuuteen vaikuttavat viitevirhe, offset-virhe, vahvistusvirhe, ei-lineaarisuus, melu, vääristymä, puuttuvat koodit, aukkoheilat ja muut muunnosvirheet.
SINAD, eli Signaalin ja Melun sekä Vääristymien Suhde, vertailee haluttua signaalia yhdessä ADC:n ulostulon yhdistetyn melun ja vääristymän kanssa.
ENOB, eli Tehokas bittimäärä, näyttää ADC:n käytettävän dynaamisen resoluution melun ja vääristymien jälkeen.
ENOB = (SINAD − 1.76) ÷ 6.02
Esimerkiksi, jos SINAD on 68 dB:
ENOB = (68 − 1.76) ÷ 6.02 ≈ 11.0 bittiä
Tämä kaava pätee sini-aaltotestaamiselle määritellyissä syöte-taajuus-, syöte-amplitudi- ja näytteenottokonditioissa.
Muita tärkeitä ADC:n tarkkuustermistöjä ovat:
• Kokonaissopeuttamaton virhe (TUE): Suurten staattisten ADC-virheiden yhdistetty vaikutus ilman kalibrointia.
• Puuttuvat koodit: Digitaaliset lähtökoodit, jotka eivät ilmesty muuntajan epälineaarisuuden vuoksi.
• Apertuurin jitter: Aikaviive epävarmuus näytteenottomomentissa, joka tulee tärkeämmäksi korkeammilla syöttötaajuuksilla.
• Meluton tarkkuus: Bitin määrä, joka pysyy vakaana ilman koodimuutoksia, joita aiheuttaa huipusta huippuun melu.
| Spesifikaatio |
Mitä tarkistaa |
Miksi se on tärkeää |
| Syöttöalue |
Minimi- ja maksimi-syöttöjännite |
Varmistaa, että signaali pysyy ADC-mitattavissa alueella |
| Viitejännite |
Tarkkuus, vakaus, poikkeama ja melu |
Määrittää muuntamisalueen ja vaikuttaa mittauksen tarkkuuteen |
| Tarkkuus |
Vaadittu bitin määrä |
Määrittää saatavilla olevien digitaalisten tasojen määrän |
| Näytteenottotaajuus |
Näytteet sekunnissa |
Määrittää, kuinka usein syöttösignaali otetaan näytteeksi |
| Muunnosläpimeno |
Suoritetut muunnokset sekunnissa |
Tärkeä jatkuville ja monikanavaisille mittauksille |
| ENOB |
Tehokas bitin määrä |
Näyttää käyttökelpoisen dynaamisen tarkkuuden melun ja vääristymien jälkeen |
| SINAD |
Signaalin, melun ja vääristymien suhde |
Näyttää yhdistetyn melun ja vääristymän suorituskyvyn |
| SNR |
Signaalin ja melun suhde |
Ilmaisee signaalin laadun verrattuna meluun |
| Kokonaisvirhe (TUE) |
Yhdistetty staattinen muunnosvirhe |
Auttaa arvioimaan yleistä tasasähkön mittauksen tarkkuutta ilman kalibrointia |
| INL |
Integraalinen epälineaarisuus |
Näyttää poikkeaman ihanteellisesta ADC-siirtokäyrästä |
| DNL |
Diferentiaalinen epälineaarisuus |
Näyttää vaihtelut vierekkäisten digitaalisten koodivaiheiden välillä |
| Puuttuvat koodit |
Koskeeko kaikkia odotettuja lähtökoodivaiheita |
Puuttuvat koodit vähentävät käyttökelpoista muunnosjatkuvuutta |
| Apertuurin jitter |
Näytteenottovirheraja |
Voi vähentää tarkkuutta ja SNR:ää korkeammilla syöttötaajuuksilla |
| Meluton tarkkuus |
Vakaa tarkkuus, joka perustuu huipusta huippuun meluun |
Tärkeä matalameluisille tasasähkön ja anturimittauksille |
| Offset-virhe |
Virhe lähellä nollasyöttöä |
Vaikuttaa matalasignalimitansa mittauksiin |
| Voimavirhe |
Virhe lähellä täysmittaista syöttöä |
Vaikuttaa mittauksen skaalaamiseen syöttöalueella |
| Hankinta-aika |
Aika, joka tarvitaan ADC-syötteen signaalin hankkimiseen |
Riittämätön hankinta-aika voi aiheuttaa virheitä, erityisesti korkean lähteellisen impedanssin kanssa |
| Syöttöimpedanssi |
Kuormitus signaalilähteellä |
Voi vaikuttaa signaalin asettumiseen ja mittauksen tarkkuuteen |
| Kanavien määrä |
Analogisten syöttöjen määrä |
Määrittää, kuinka monta signaalia voidaan mitata |
| Syöttötyyppi |
Yksittäinen tai differentiaalinen |
On yhteensopiva anturin tai signaalilähteen kanssa |
| Liitäntä |
SPI, I²C, rinnakkainen, LVDS tai muu liitäntä |
On oltava yhteensopiva prosessorin tai FPGA:n kanssa |
| Tehonkulutus |
Aktiivinen ja lepotila virta |
Tärkeä kannettaville ja matalan tehon järjestelmille |
| Käyttölämpötila |
Vaadittu lämpötila-alue |
Tärkeä teollisiin ja autototeutuksiin |
Dynaamisen ADC-suorituskyvyn osalta SINAD ja ENOB tulisi tarkistaa määritettynä syöttötaajuudella, syöttöamplitudilla ja näytteenottotaajuudella, koska nämä arvot voivat muuttua käyttöolosuhteista riippuen. Apertuurin jitter tulee tärkeämmäksi syöttötaajuuden noustessa, kun taas meluton tarkkuus on erityisen hyödyllinen tarkkuuden tasasähkön ja matalataajuisissa mittauksissa.
ADC:itä käytetään siellä, missä digitaalisen järjestelmän on mitattava analogista signaalia.
| Sovellus |
Mitattu signaali |
Pää ADC-vaatimus |
| Lämpötilan tunnistus |
Termistorit, RTD tai anturijännite |
Tarkkuus ja matala melu |
| Akun valvonta |
Akku- tai syöttöjännite |
Syöttöalue ja tarkkuus |
| Äänitallennus |
Mikrofoni tai ääniaallon muoto |
Näytteenottotaajuus ja matala vääristymä |
| Teollisuusohjaus |
Paine, virta, sijainti ja virta |
Luotettavuus ja melusuorituskyky |
| Autoelektroniikka |
Lämpötila, paine, jännite ja virta |
Laaja lämpötila-alue ja kestävyys |
| Lääketieteelliset instrumentit |
Matalasignaalisen anturin signaalit |
Korkea tarkkuus ja matala melu |
| Tietojen hankinta |
Useita mittauskanavia |
Tarkkuus, kanavamäärä ja näytteenottotaajuus |
| Oskilloskoopit |
Korkeanopeudelliset jänniteaaltomuodot |
Korkea näytteenottotaajuus ja kaistaleveys |
ADC-tyypin tulisi vastata signaalia. Hitaat tarkkuussensorit tarvitsevat yleensä tarkkuutta ja alhaista häiriötaustaa, kun taas nopeat aaltomuodot vaativat suurta näytteenottokykyä ja riittävää kaistaleveyttä.
Esimerkkijärjestelmän vaatimukset: 0–3.3 V syöttöalue, 1 mV vähimmäissignaalimuutos, 1 kHz suurin signaalifrekvenssi ja 4 kanavaa.
| Valintavaihe |
Laskenta / Vaatimus |
Tulos |
| Vaatimustarkkuus |
3.3 V ÷ 0.001 V = 3,300 tasoa |
Vähintään 12-bittinen ADC, koska 2¹² = 4,096 tasoa |
| LSB-koko |
3.3 V ÷ 4096 |
≈ 0.806 mV/LSB |
| Vähimmäisnäytteenottotaajuus |
> 2 × 1 kHz |
> 2 kSPS per kanava |
| Käytännön näytteenottotaajuus |
Lisää marginaali anti-aliasing-suodattimen siirtymäkaistalle |
5 kSPS per kanava |
| Kanavakohtainen läpivirtaama |
Vaatimusten mukainen näytteenottotaajuus jokaiselle kanavalle |
5 kSPS / kanava |
| Kokonaisläpivirtaama |
4 kanavaa × 5 kSPS |
20 kSPS vähimmäiskokonaisläpivirtaama |
| Syöttöalue |
Anturin lähtö = 0–3.3 V |
ADC:n tulisi tukea 0–3.3 V tai käyttää signaalin käsittelyä |
| Viittauksen tarkkuus |
0.5 LSB = 0.403 mV; 0.403 mV ÷ 3.3 V × 100 |
≈ 0.0122% tai 122 ppm suurin alkuvirhevaraus |
| Muuntojakso |
1 ÷ 20,000 |
50 µs |
| Hankintaikkuna |
50 µs − 10 µs oletetusta muunto-/liitäntäylityksestä |
40 µs |
| Asettumisen vaatimus |
ADC:n tulojen on asetuttava ±0.5 LSB sisällä 40 µs:n hankintaikkunassa. Ensimmäisen asteen järjestelmässä 12-bittisen tarkkuuden kohdalla tsettle ≈ 9τ. |
τ ≤ 40 µs ÷ 9 ≈ 4.4 µs |
| SAR ADC |
Sopii vaaditulle tarkkuudelle, läpivirtaamalle, alhaiselle viiveelle ja monikanavaiselle näytteenotolle |
Paras vaihtoehto |
| Sigma-Delta ADC |
Hyvä tarkkuus ja alhainen häiriötausta, mutta viive ja kanavavaihdot on tarkistettava |
Mahdollinen |
| Pipeline ADC |
Paljon nopeampi kuin vaaditaan |
Yleensä tarpeeton |
| Flash ADC |
Korkea nopeus, teho ja monimutkaisuus ovat tarpeettomia |
Huono valinta |
| Dual-Slope ADC |
Hyvä tarkkuus mutta yleensä liian hidas |
Huono valinta |
| Suositeltu ADC |
Sen on täytettävä kaikki lasketut vaatimukset |
12-bittinen tai korkeampi SAR ADC, ≥4 kanavaa ja >20 kSPS kokonaisläpivirtaama |
10 µs:n ylitys on esimerkkioletus. Käytä valitun ADC:n tietolehtiarvoja muuntoajalle, hankinta-ajalle, sisäänmenokapasiteetille ja lähdeimpedanssille.
| Ongelma |
Todennäköinen syy |
Suositeltava tarkistus |
| Meluisat ADC-lukemat |
Meluava syöttö, viite, maa tai anturi |
Tarkista dekouppaus, suodatus, maadoitus ja viittauksen vakaus |
| Luku pysyy nollassa |
Ei syöttösignaalia, väärä kanava tai konfigurointivirhe |
Mittaa syöttöjännite ja tarkista ADC-asetukset |
| Luku pysyy lähellä maksimiarvoa |
Syöttö ylittää ADC:n alueen |
Tarkista syöttöjännite ja signaalikäsittelypiiri |
| Luku on epätarkka |
Viitevihreys, offset, vahvistusvirhe tai vastustoleranssi |
Mittaa viittaus ja tarkista skaalauskomponentit |
| Lukemat vaihtuvat kanavien välillä |
Korkea lähdeimpedanssi tai riittämätön asettumisaika |
Lisää hankinta-aika tai puskuroi sisäänmeno |
| Nopea signaali näyttää virheelliseltä |
Näytteenottotaajuus liian matala |
Lisää näytteenottotaajuutta ja käytä anti-aliasing-suodatinta |
| Alhaiset bitit vaihtelevat |
Sähkön häiriö |
Paranna maadoitusta, suodatusta, varjostusta tai keskiarvoistusta |
| Luku muuttuu lämpötilan mukaan |
Viite- tai komponenttivaihtelu |
Käytä alhaisen vaihtelun komponentteja tai kalibrointia |
ADC muuntaa analogiset signaalit digitaalisiksi arvoiksi käsittelyä ja mittaamista varten. Oikea ADC riippuu tarkkuudesta, näytteenottotaajuudesta, tarkkuudesta, syöttöalueesta, häiriöstä, viittauksen laadusta, liitännästä ja tehovaatimuksista. SAR ADC:t sopivat moniin upotettuihin järjestelmiin, sigma-delta ADC:t soveltuvat tarkkuusmittauksiin, ja pipeline- tai flash ADC:t ovat parempia nopeille signaaleille. Hyvä signaalin käsittely, maadoitus, suodatus ja viittausmuotoilu ovat myös tärkeitä luotettavan muunnoksen kannalta.
Resoluutio määrittää, kuinka monta digitaalista tasoa ADC voi tuottaa, kun taas tarkkuus kuvaa, kuinka lähellä muunnettu tulos on todellista input-arvoa.
12-bittinen ADC tarjoaa 4 096 tasoa verrattuna 1 024 tasoon 10-bittisessä ADC:ssä. Se voi edustaa pienempiä signaalimuutoksia, mutta todellinen suorituskyky riippuu silti melusta ja tarkkuudesta.
Kaistanrajoitetulle perussignaalille käytä näytteenottotaajuutta, joka on suurempi kuin kaksi kertaa korkein signaalitaajuus. Käytännön suunnitelmissa käytä lisämarginaalia, jotta anti-aliasointisuodattimella on siirtymäkaista alle fₛ/2.
SAR ADC:t tarjoavat hyvän tasapainon nopeuden, tarkkuuden ja tehon välillä. Sigma-delta ADC:t ovat yleisesti ottaen parempia korkean resoluution, matalimman melun mittauksissa matalammilla kaistanleveydellä.
Ei suoraan. Jännitejakaja tai muu signaalin käsittely piiri on normaalisti tarpeen signaalin vähentämiseksi turvalliselle syöttötasolle.
Yleisimmät syyt ovat tehonsyöttöhäiriöt, viitehäiriöt, huono maadoitus, korkea lähteen impedanssi, digitaalinen häiriö ja riittämätön suodatus.
ENOB tarkoittaa tehokasta bittimäärää. Se tarkoittaa käytettävissä olevaa resoluutiota ottaen huomioon melun ja vääristymät.
Käytä ulkoista ADC:tä, kun tarvitset suurempaa resoluutiota, parempaa tarkkuutta, matalampaa melua, lisäkanavia, differentiaalisyöttöjä tai näytteenottotaajuutta, jota mikrokontrollerin sisäinen ADC ei voi tarjota.
Sep 14
Näkymät: 200
Sep 11
Näkymät: 330
Sep 11
Näkymät: 355
Sep 09
Näkymät: 579
Sep 09
Näkymät: 466
Sep 08
Näkymät: 577